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A análise vestigial permite-nos detectar impurezas em concentrações muito baixas e pode ter um papel vital no seu procedimento de controle de qualidade. É importante na produção de dispositivos semicondutores, porque até quantidades vestigiais de contaminação podem reduzir o rendimento ou até causar falhas.

A análise vestigial da SGS oferece um serviço especializado comprovado como uma parte fundamental da fabricação do seu controle de qualidade. Nossa equipe experiente trabalha com um equipamento de alto-desempenho para localizar com precisão impurezas vestigiais que podem causar o mal funcionamento do seu produto ou reduzir a confiabilidade. Realizamos procedimentos de testes altamente sensíveis, utilizando:

  • Espectrometria de massa de íon secundário (SIMS) - identifica impurezas em concentrações muito baixas 
  • Time-of-Flight SIMS (ToF–SIMS) – detecta impurezas de superfície
  • Plasma acoplado indutivo / Espectrometria de massa (ICPMS) apoiada pela decomposição de fase de vapor (VPD) ou método pack-extraction (PEM) - altamente sensível a uma ampla gama de elementos

Entre em contato com a SGS para saber como a nossa análise vestigial pode melhorar a qualidade e a confiabilidade dos seus produtos.